Zeta電勢電位原理：1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩定性的重要指標。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱為電位離子，電位離子通過靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍，被吸引的離子稱為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。 因此，整個膠團是處于電中性狀態，而膠核表面電勢是醉高的，根據定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。大功率的激光器可以對極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號，使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。進口zeta電位及納米粒度儀廠家
產品優勢：四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器（選配）Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發生器和雪崩二極管檢測器（相比較傳統的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。APD通常被用于散射發生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發生器模塊，在非常短的時間內就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。 五、380/MA多角度檢測器（選配）粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調節角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。挑選zeta電位及納米粒度儀系列同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位。
小知識——光電倍增管（PMT)光電倍增管（Photomultiplier，簡稱PMT），是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進入的微弱光信號增強至原本的108倍，使光信號能被測量。小知識——光電二極管（APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置，其內包含光電陰極(photocathode)，幾個二次發射極(dynode)和一個陽極。入射光子撞擊光電陰極，產生光電效應，產生的光電子被聚焦到二次發射極。其后的工作原理如同電子倍增管，電子被加速到二次發射極產生多個二次電子，通常每個二次發射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般，經過一連串的二次發射極使得電子倍增，然后到達陽極。一般光電倍增管的二次發射極是分離式的，而電子倍增管的二次發射極是連續式的。
Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：動態光散射儀（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；檢測范圍：粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍0.3nm–10μm，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（Gaussian）單峰算法的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶節省檢測成本。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。
Nicomp多峰分布概念：基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點，Nicomp創始人DaveNicole很早就認識到傳統的動態光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產生活中不相符，因為現實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創的Nicomp多峰分布理論，提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統的DLS系統的結果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現樣品的真實情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優異的算法和高靈敏性的硬件設計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區分1:2的多分散體系。四、雪崩二極管 (APD)高靈敏度檢測器（選配） ：Nicomp 380裝配各種大功率的激光發生器和雪崩二極管檢測器。挑選zeta電位及納米粒度儀系列
這和實踐生產生活中不相符，因為現實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系。進口zeta電位及納米粒度儀廠家
動態光散射理論：粒子的擴散效應：懸浮的粒子并不是靜止不動的，相反，他們以布朗運動（Brownianmotion)的方式無規則的運動，布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此，到達PMT檢測區的每一束散射光隨時間也呈無規則波動，這是由于產生散射光的粒子的位置不同而導致的無規則波動。因為這些光互相干涉在一起，在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產生很大的變化，進而產生有實際意義的波動，于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念，我們現在假定粒子是均一大小的，具有相同的擴散系數（diffusion coefficient)。分散體系中的小粒子運動的快，將會導致光強波動信號變化很快；而相反地，大粒子擴散地畢竟慢，導致了光強值的變化比較慢。進口zeta電位及納米粒度儀廠家